Object

This publication is protected and available only for logged users.
This publication is protected and available only for logged users.

Title: Metrologia w technikach wytwarzania. Część 2

Contributor:

Kruszyński, Bogdan (1949-2017). Red. ; Jóźwik, Krzysztof. Red.

Reviewer:

Dobosz, Marek. ; Grzesik, Wit. ; Jóźwik, Krzysztof. ; Gawlik, Józef. ; Jakubiec, Władysław ; Kruszyński, Bogdan ; Łukianowicz, Czesław ; Marciniak, Tadeusz. ; Olczyk, Aleksander ; Pałko, Tadeusz ; Pawlus, Paweł ; Płaska, Stanisław ; Ratajczyk, Eugeniusz. ; Skoczylas, Leszek. ; Sładek, Jerzy. ; Staniek, Roman. ; Wieczorowski, Michał ; Wójcik, Ryszard ; Żebrowska-Łucyk, Sabina

Publisher:

Lodz University of Technology

Place of publication:

Lodz

Rights Management:

All rights reserved

License:

Legal licence ; On legal basis of : Act of 4 February 1994 on copyright and related rights 28 Art. 3 p (Journal of Laws, no. 90, item 631, 2006)

Access Rights:

Access only within Lodz University of Technology network : p.lodz.pl (LUT campus, Lodz, Poland)

Keywords:

machines - measurement - conferences ; machine building technology - conferences ; surface treatment - conferences ; measurement - conferences

Description:

XV Krajowa i VI Międzynarodowa Konferencja Naukowa-Techniczna, Łódź-Uniejów, 17-19.09.2014 : materiały konferencyjne ; Uwaga :Ze względu na rozmiar, publikacja została podzielona na 3 części : Część 1 zakres stron : 1-178 ; Część 2 zakres stron : 179-336 ; Część 3 zakres stron : 337-503

Language:

pol

Format:

application/pdf

Relation:

click here to follow the link

Identifier:

oai:cybra.p.lodz.pl:17397

Digitization:

Lodz University of Technology Library. Digital Content Creation and Access Management Department.

Location of original:

Lodz University of Technology Library

Object collections:

Last modified:

Nov 4, 2020

In our library since:

Aug 26, 2020

Number of object content hits:

0

All available object's versions:

http://cybra.p.lodz.pl/publication/20579

Show description in RDF format:

RDF

Show description in OAI-PMH format:

OAI-PMH

Edition name Date
Metrologia w technikach wytwarzania. Część 2 Nov 4, 2020

This page uses 'cookies'. More information